産地推定法蛍光X線分析法（須恵器・瓦・埴輪）

三辻利一

permalink : https://sitereports.nabunken.go.jp/en/article/38731

DOI : http://doi.org/10.24484/sitereports.117877-38731

三辻利一 2001「産地推定法蛍光X線分析法（須恵器・瓦・埴輪）」『季刊考古学』 https://sitereports.nabunken.go.jp/en/article/38731

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文化財種別 考古資料埋蔵文化財

史跡・遺跡種別

遺物（材質分類） 土器土製品（瓦含む）

学問種別 考古学文化財科学地質学

テーマ 素材分析調査技術流通・経済史

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Created Date : 2022-04-22

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瓦埴輪蛍光X線分析法産地推定法須恵器土製品地質学

産地推定法蛍光X線分析法（須恵器・瓦・埴輪）

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この論文は下の刊行物の 80 - 82 ページに掲載されています。

収録刊行物

産地推定法 蛍光X線分析法（須恵器・瓦・埴輪）

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